簡要描述：彩譜色差儀DS200 （1）雙光路設計提升重復性精度dE*ab≤0.03雙光路設計在測量樣品信號的同時監(jiān)測光源能量波動，在測量時減少干擾，獲得更高的測量穩(wěn)定性，將儀器測量重復性指標提高至dE*ab≤0.03 。保證了儀器測量速度、準確性和穩(wěn)定性。（2）創(chuàng)新的5微米厚度納米集成光學器件
產品型號：DS200廠商性質：經銷商更新時間：2023-11-27訪 問 量：423彩譜色差儀DS200
（1）超過30種測量指標
• RGB,Lab,光譜反射率,LCh,Hunter Lab,CIE-Luv,XYZ,Yxy
• 色差(ΔE*ab,ΔE*cmc,ΔE*94,ΔE*00)
• 白度(ASTM E313-00,ASTM E313-73,CIE/ISO,AATCC,Hunter,Taube Berger Stensby)
• 黃度(ASTM D1925,ASTM E313-00,ASTM E313-73)
• 黑度(My,dM),沾色牢度,變色牢度,Tint(ASTM E313-00)
• 色密度CMYK(A,T,E,M),同色異譜指數(shù)Milm,孟塞爾,遮蓋力,力份(染料強度,著色力)
（1）評價顏色是否跳燈，提供近40種評價光源
A，B，C，D50，D55，D65等近40種評價光源可選擇，幾乎囊括了業(yè)內所有的顏色測量指標和光源類型。
（1）包含SCI測量模式
SCI指包含鏡面反射光方式，一般用于那些研究顏色本身屬性而不關心顏色所附著的樣品表面光澤度。
（1）包含UV，可進行熒光色的測量
在含有熒光的材料表面測色，DS-200系列色差儀依然可以提供穩(wěn)定客觀的反射率數(shù)據(jù)。
（1）校準底座和莫氏硬度為9的鋯基準對儀器校準，保證了儀器的長期穩(wěn)定性
彩譜色差儀DS200 技術參數(shù)
產品型號 | A | B | C |
測量結構* | D/8，SCI | ||
測量重復性** | ΔE*ab≤ 0.03 | ||
顯示精度 | 0.01 | ||
測量口徑 | 一種：Φ6mm | 兩種：Φ11mm，Φ6mm | 三種：Φ11mm， Φ6mm，Φ3mm |
測量指標 | 光譜反射率,CIE-Lab,CIE-LCh,HunterLab,CIE-Luv,XYZ,Yxy,RGB,色差(ΔE*ab,ΔE*cmc,ΔE*94,ΔE*00), 白度(ASTM E313-00,ASTM E313-73,CIE/ISO,AATCC,Hunter,Taube Berger Stensby),黃度(ASTM D1925, ASTM E313-00,ASTM E313-73),黑度(My,dM),沾色牢度,變色牢度,Tint(ASTM E313-00), 色密度CMYK(A,T,E,M),同色異譜指數(shù)Milm,孟塞爾,遮蓋力,力份(染料強度,著色力) | ||
光源條件 | A,B,C,D50,D55,D65,D75,F1,F2,F3,F4,F5,F6,F7,F8,F9,F10,F11,F12,CWF,U30,U35,DLF,NBF,TL83, TL84,ID50,ID65,LED-B1,LED-B2,LED-B3,LED-B4,LED-B5,LED-BH1,LED-RGB1,LED-V1,LED-V2 | ||
照明光源 | 全波段均衡LED光源 | 全波段均衡LED光源+UV | |
測量觀察方式 | 目視 | 攝像頭取景定位 | |
校準 | 手動校準 | 智能自動校準 | |
軟件支持 | Andriod,iOS,Windows,微信小程序 | ||
準確性保證 | 保證計量合格 | 保證一級計量合格 | |
視場角 | 2°，10° | ||
積分球直徑 | 40mm | ||
符合標準 | CIE,GB/T 3978,GB 2893,GB/T 18833,ISO7724-1,ASTM E1164,DIN5033 Teil7 | ||
分光方式 | 納米集成光譜器件 | ||
感應器 | 硅光電二極管陣列 雙16組 | ||
波長間隔 | 10nm | ||
波長范圍 | 400-700nm | ||
反射率測定范圍 | 0-200% | ||
反射率分辨率 | 0.01% | ||
測量方式 | 單次測量，平均測量（2~99次） | ||
測量時間 | 約1秒 | ||
接口 | USB，藍牙 | ||
屏幕 | IPS全彩屏幕，2.4英寸 | ||
電池容量 | 單次充電可連續(xù)測量8000次， 3.7V/3000mAh | ||
光源壽命 | 10年100萬次 | ||
語言 | 簡體中文，英語 | ||
存儲 | 儀器：標樣100條，試樣10000條；APP海量存儲 | ||
